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产品信息

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单片式清洗设备

CL系列


具有体积小,积层式腔室构造,2流体喷射清洗,节能设计,使用臭氧水降低成本减少污染等特点。

  • 高性能低价格
  • 根据客户需求提供高性能低价格设备
  • 可定制(设备体积精小化)
  • 根据环境及用途灵活设计
  • 充实的制造 支持体制
  • 全国范围设备维护
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设备特点

枚叶式设备的优点(与浸泡式浴槽式相比较)
晶片表面的粒子的数量非常少(可清洗25nm以上大小)

可清洗例如:附着颗粒数… 10个/W以下(0.08μm以上的粒子)
参考:槽式的情况下200/W

药液,纯净水的消耗少

实施例
药液…1%dHF,20ℓ/天
纯水…每枚晶片处理需要0.5〜1ℓ/分钟

小器件尺寸(可定制)

8英寸晶片情况下
设备主体1100(长),800(宽),1900(高)
药液供给装置510(长),800(宽),1800(高)

Φ12inch wet processor
(single spin type)

Φ6inch & 4inch SiC wafer cleaning equipment

高性能低价格

本公司从客户的角度出发,在满足客户对产品性能要求的基础上,努力降低产品价格。
例如通过独创的腔室结构,从而实现滴水预防
为了处理该滴水预防等,无需反吸由处理腔室结构,根据自己的设计。
此外,清洗装置采用独特的搬运方式的设计,从而实现小型低价。
对于“想要高性能的设备,却不想要高价”的客户来说是最完美的清洗设备。

清洗设备制造公司的地位

可定制

我们可根据客户所需产品的性能,大小,期望价格等,提供不同设计方案。
材料的过度使用,不必要功能的过度设计将造成设备价格过高,MTK以客户为本,根据客需求的主次而提供设计方案。

设备概述

晶片的表面的粒子数少

MTK拥有独特的室结构技术,在晶片处理过程中通过合理控制气流,液流,最合适的药液选择从而降低晶片表面的颗粒数。
例1)1%dHF 15秒处理(6英寸)20個/W(0.3μm以上)
例2)DIW 30秒处理(6英寸)5個/W(0.08μm以上)

高性能,低价格

性能高则价格高,性能低则价格低是如今设备市场上的普遍情况。
然而”想要高性能的设备,却不想要高价”的客户也大量存在。MTK将满足这些客户的需求。

高性能,低价格

MTK拥有其他公司不具备的技术,实现了占地面积小型化

  1. 独特的传送方式(不使用市面上出售的机器人)。
  2. 化学液体2和纯水冲洗,以完成在该室干燥之一的过程。我们已经采取了若干级立式室。
  3. 针对客户设计不同装置,提供最好的设计方案。
  4. 通过提供技术方案减少多余零件的使用。
技术工艺条件的提案

很多设备制造商擅于硬件的制造,而处理技术缓解薄弱。
然而MTK拥有曾在半导体制造公司工作的员工,可针对客户提供最适合的设计方案

◯药液的选定
◯处理时间,转数
◯氢水,机能水等

同时清洗晶片的两侧

通常情况,固定晶片外周部清洗晶片里面时,对清洗设备硬件的控制十分困难。然而,MTK开发了
同时清洗晶片两面的新技术。

丰富的扩充选择

MTK除了节约成本的标准规格清洗设备之外,还提供了可满足顾客需要的各种丰富选项。

◯2流喷射 ◯超音速喷射
◯氢水,碳酸水等功能水 ◯臭氧水(最高为30ppm)
◯刷清洗 ◯角基板处理 ◯CMP后清洗

枚叶式清洗设备CL系列的的应用

◯半导体(前处理,后处理)
◯SAW滤波器或类似的传感器的
◯硬盘
◯FPD(LCD,智能手机等)
◯MEMS
◯太阳能电池

视频中看到的枚叶式清洗设备

片面洗浄

2流体ジェット

両面同時洗浄

単結晶SiCウエハ処理

ベルヌイチャック動画ビデオ

枚葉式洗浄&金属膜蝕刻装置 SiC & GaN

超音波洗浄

枚叶式晶片清洗的优点(相对于浴槽式)

颗粒数

10个/W
(@0.08μm)
晶片表面上的粒子数少

体积小

W1100✕L800✕H1800
设备安装面积小(8英寸情况下)

节省能源

约0.3升/晶片
纯净水使用量
约20升/天
药品液体使用量(1%dHF的情况下)

丰富的追加选项

◯晶圆尺寸2英寸到12英寸
◯角基板处理
◯臭氧水,氢水

性能数据

浸泡设备的颗粒问题

使用浴槽浸渍法,将晶片从液体取出时,已经去除了的颗粒将再次附着在晶片上。
特别是颗粒会从晶片表面的上部流到底部。
而使用枚叶式主轴方式清洗,晶片从过滤颗粒后的洁净的水中弹出,所以干燥后的晶片表面基本不附着颗粒。

单片式和槽式浸泡式的性能比较

比较项目 槽式・浸泡式 单片式
LSI良率(污染数量少的原因) - (3~7%良率提升)50nm时代的LSI
产能 300片/小时 100片/小时(2腔的情况下)
占地面积 13m2 1.5~3m2
节拍时间(处理1片时) 45分 1分
节能 纯水消耗量 2000升/小时 300升/小时
节能 药液消耗量 100升/天 20升/天
刻蚀片内均匀性(热氧化膜) 7% 2%
颗粒附着量(大于0.1um计数) 200个/片 10个/片
金属附着量 <1E12 atoms/cm2 <1E10 atoms/cm2
设备故障导致的废片数 50片 1片

清洗后晶圆表面的颗粒数

满足最先进LSI制造水平的洁净度
颗粒直径
大于0.08um的颗粒数(6寸Si wafer表面上)
处理内容 0.079~0.086um 0.087~0.10um 0.11~0.136um 0.137~0.202um 0.203~1.005um 1.006um~ 增加总数
DIW→干燥(回转+N2) 2 0 2 0 0 1 5
同上 6 3 0 0 0 4 13
药液→DIW→干燥(N2) 25 7 9 0 0 0 41

清洗后晶圆表面的颗粒数

处理前
510个
处理后
43个

颗粒去除率92%(6英寸碳化硅晶片颗粒@0.15μm

通过化学药液去除干蚀刻残渣(铝布线工艺)

处理前
处理后

有机化学溶液(25℃)30秒处理

金属附着数据

由于液体接触部分主要由PFA和PTFE树脂制成,因此没有金属杂质附着在加工产品上。

设备技术参数表

晶片尺寸 2寸,4寸,6寸,8寸,12寸
晶片材料 碳化硅,硅,砷化镓,氮化镓,玻璃,LT
处理室数 1室,2室,3室,4室
药液 最多两种(共3种类型可选)
药液温度 高达80℃(超过80度以上需要追加选项)
可选设备 2流体喷射功能(推荐)。超音速喷嘴功能。
用力 纯净水,氮气(干燥),空气,电源,真空(运输)

性能规格

附着粒子的数量 20个/晶片(0.08μm或以上大小)5 个/晶片(0.15μm以上大小)
金属污染物 1E10 atoms/ cm 2以下
刻蚀的均匀性 小于2%(使用dHF蚀刻热氧化膜的情况下)
液体化学药品再利用率 95%以上可循环使用